王佑，伟德源自英国始于1946合肥创新研究院特聘副研究员。2017年在巴黎国立高等电信学院获通信与电子学博士学位，主要从事自旋电子器件、非易失性存储器、低功耗安全电路设计与电子电路的可靠性的研究。在集成电路与器件可靠性领域的期刊 IEEE Transactions on electron devices 和 Microelectronics Reliability等国际权威期刊和国际会议上发表SCI索引论文20余篇。硕士与博士期间参与法国科研署(ANR)资助的多个科研项目并完成核心任务。2014年在国际可靠性研究会议ESREF上获得最佳论文海报奖。另外，博士课题研究期间开发的两个基于自旋电子器件的开源模型库发表于自旋电子器件开源网站SPINLIB并被众多行业内科研机构使用。